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ATEC-FM

ForceModulationAFMProbewithREALTipVisibility

Manufacturer:NANOSENSORS

Coating: none
Tipshape: VisIBLe

Cantilever:

F 85kHz

C 2.8N/m

L 240µm

货号选择

ATEC-FM-10 Boxof10AFMProbe

ATEC-FM-20 Boxof20AFMProbe

ATEC-FM-50 Boxof 50AFMProbe

NANOSENSORSAdvancedTEC™FMAFM吸头设计用于力调制模式成像。它们具有四面体尖端,从悬臂的最末端突出。这种独特的功能可实现精确定位,使AdvancedTEC™成为世界上唯一的AFM扫描探头,即使探头因安装在AFM头上而倾斜,也能提供真正的顶级可见性。该特征使它们成为所有应用的最佳选择,其中尖端必须精确地放置在感兴趣的点上和/或必须是可见的(例如,Nanomanipulation)。

由于它们具有非常小的半锥角,AdvancedTEC™系列的尖端在具有小图案尺寸和陡峭样品特征的样品上表现出极佳的性能。

探针提供独特的功能:

来自TOP的实际可见性

单片硅

高掺杂硅以消散静电荷

化学惰性的

高机械Q因子,高灵敏度

AFMTip:


  • AFMCantilever:

  • Beam

  • 2.8N/m (0.7-9N/m)*

  • 85kHz (50-130kHz)*

  • 240µm (230-250µm)*

  • 35µm (30-40µm)*

  • 3µm (2-4µm)*




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